隨著科技的發(fā)展，近年來，薄膜的市場需求不斷增加。薄膜的厚度是產(chǎn)品的重要物理指標之一，它直接影響產(chǎn)品的產(chǎn)量、質(zhì)量、經(jīng)濟效益和生產(chǎn)成本。薄膜厚度測量也是薄膜制造業(yè)的基本檢測項目之一。薄膜測厚儀采用顯微光譜法測量小范圍內(nèi)的反射率，可進行高精度的膜厚/光學(xué)常數(shù)分析。

　　

　　涂膜的厚度可以采用無損、非接觸的方式進行測量，如各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等。測量時間方面，可實現(xiàn)1秒/點的高速測量，配備的軟件即使是初次使用也能輕松分析光學(xué)常數(shù)。

　　
 

　　雖然薄膜測厚儀在使用中可以起到高精度的測厚作用，但這一切都需要建立在正確操作的條件下。如果操作方式錯誤，后果很嚴重。不僅不能保證測量數(shù)據(jù)的準確性，還會造成測厚儀的損壞，影響車身后期的測試性能。可見，正確使用膜厚儀很重要。

　　

　　不了解基礎(chǔ)參數(shù)，怎么能用好薄膜測厚儀？基本參數(shù)方面主要包括測量原理、測量范圍、測量誤差、數(shù)據(jù)存儲、統(tǒng)計值、最小曲率半徑、最小測量面積、最小基材厚度、被測物體材料重量、薄膜測厚儀尺寸、等等這些數(shù)據(jù)雖然在產(chǎn)品說明書或者設(shè)備標識板上都有展示，但是做好初步的基礎(chǔ)了解是非常有必要的。如果事先不知道，在正式操作中看，一般是趕不上的，但實際情況會很倉促。以測量原理為例，需要針對不同的被測對象確定合適的測量原理，如磁感應(yīng)原理或渦流效應(yīng)原理。如果一開始沒有正確選擇測量原理，那么下面的操作就會一步步出錯。